微區掃描電化學是一個精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補性，EC-STM和EC-AFM是對溶液中樣品表面進行原子級和納米級成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現了電化學過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質。SECM具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應用情況等特點，適用于分析研究各種實時和原位的電化學反應過程。EC-STM和EC-AFM強調的是結果，而SECM注重的是過程和結果。
SECM有很多潛在的應用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學中的表面反應過程基礎研究、酶穩定性研究、生物大分子的電化學反應特性以及微機電系統（MEMS）等領域。
SVET-SKP系統工作特點：
1．非接觸測量，不干擾測定體系；
2. 對界面區狀態的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
應力分布，界面區化學分布，電化學分布的變化；
3. 測定金屬、絕緣膜下金屬和半導體電位分布；
4. 10E-12A~10E-1 數量級的極弱交流信號的測量，測定裝置必須具
有很高的抗干擾能力；
5．在線（In-situ）圖示樣品微區電化學和樣品表面變化過程等；
6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標配）；
7．特別適用液相和大氣環境下的材料表面和界面的微區顯微分析。
SVET與SKP系統的結合
SRET和SVET主要測量材料在液體電解質環境下的局部電化學反應過程；SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環境下，甚至其它氣體環境下的微區特性及其隨環境變化過程等。現在公司將用于液體電解質環境下的局部電化學反應過程的SVET和用于大氣環境下的SKP技術有機的結合在一起，極大地拓展了您的研究領域，有效地利用資源，降低了您的購買費用。掃描振動參比電極系統是利用振動電極和鎖相放大器消除微區掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統具有高靈敏度,非破壞性,可進行電化學活性測量的特點.它可進行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應力腐蝕的產生,發展等）,表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針（SVET）是在液態腐蝕環境下,進行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
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